IoT en péril à cause d'une faille sur les cartes eSIM de Kigen eUICC

Publié le 15 Juillet 2025 · Par Sn0wAlice

Une vulnérabilité récentement dévoilée dans les cartes eUICC de Kigen pourrait mettre en péril billions d'appareils IoT à travers des faiblesses dans la gestion du profil eSIM. Cette faille touche des versions précédentes de la spécification TS.48 Generic Test Profile, utilisée pour le test radio conformité dans les matériels eSIM-équipés.

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